در حال بارگذاری صفحه
White Light Interference Measuring Microscope
با استفاده از منبع نور سفید برای ترکیب تداخل نور غیر منسجم با تصویربرداری میکروسکوپی با وضوح بالا برای تولید پروفایل های سه بعدی میکروسکوپی، با استفاده از اهداف با سطوح بزرگنمایی مختلف، وضوح اندازه گیری عمودی می تواند به محدوده زیر نانومتری برسد.؛ اندازهگیری میکروسکوپی سه‌بعدی سطح و ارزیابی زبری در ماشین‌کاری دقیق، فر
میکروسکوپ اندازهگیری تداخل نور سفید اینسایز با کد مدل ISM-A8000 در گروه میکروسکوپ های دیجیتال قرار می‌گیرد و برای مشاهده و بررسی بزرگ‌نمایی‌شده نمونه با میکروسکوپ به کار می‌رود. ویژگی‌های اعلام‌شده برای این مدل عبارت‌اند از: اندازهگیری میکروسکوپی سه‌بعدی سطح و ارزیابی زبری در ماشین‌کاری دقیق، فرایندهای نیمه‌رسانا و تحلیل مواد کاربرد گسترده دارد.؛ مناسب قطعات اپتیکی دقیق، تجهیزات ماشین‌کاری میکرو و نانو، قطعات فلزی ماشین‌کاری‌شده، ویفرها و سایر قطعات است.؛ تفکیک‌پذیری عمودی زیر نانومتر، مناسب اندازهگیری و تحلیل سطوح صاف.. برای انتخاب نسخهٔ مناسب، کد مدل و مشخصات فنی هر ردیف را با نیاز اندازهگیری خود تطبیق دهید.
| کد | نوع | میدان دید | پیکسل |
|---|---|---|---|
| ISM-A8000 | میکروسکوپ اندازه گیری تداخل نور سفید | 414μm×414μm (هدف تداخل 20X) | 1600×1100 |
